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元器件可靠性問題即基本失效率的問題，這是一種隨機性質的失效，與質量問題的區別是元器件的失效率取決于工作應力水平。KE撥碼開關在一定的應力水平下，元器件的 失效率會大大下降。為剔除不符合使用要求的元器件，包括電參數不合格、密封性能不合格、外觀不合格、穩定性差、早期失效等，應進行篩選試驗，這是一種非破 壞性試驗。通過篩選可使元器件失效率降低1～2個數量級，當然篩選試驗代價（時間與費用）很大，但綜合維修、后勤保障、整架聯試等還是合算的，研制周期也 不會延長。電源設備主要元器件的篩選試驗一般要求：

　　①電阻在室溫下按技術條件進行100％測試，剔除不合格品。

　　②普通電容器在室溫下按技術條件進行100％測試，剔除不合格品。

　　③接插件按技術條件抽樣檢測各種參數。

　　④半導體器件按以下程序進行篩選：

　　目檢→初測→高溫貯存→高低溫沖擊→電功率老化→高溫測試→低溫測試→常溫測試

　　篩選結束后應計算剔除率Q

　　Q=（n / N）×100%

　　式中：N——受試樣品總數；

　　n——被剔除的樣品數；

　　如果Q超過標準規定的上限值，則本批元器件全部不準上機，并按有關規定處理。

　　在符合標準規定時，KE則將篩選合格的元器件打漆點標注，然后入專用庫房供裝機使用。